VALMET IQ孔隙度测量

由Valmet IQ孔隙度测量(IQ孔隙度)测量的精确机器方向趋势和高分辨率孔隙率分布为具有均匀孔隙率的纸和板提供了坚实的基础。

VALMET IQ孔隙度测量

改善的孔隙率不仅可以积极影响片材强度和涂层拾取,还影响片材表面性质。透气性也是麻袋,过滤器,香烟和其他特殊论文的关键变量之一。IQ孔隙度给出了通过精炼,湿端,压力机操作引起的孔隙率变化的瞬间反应,并且由于可以达到更快的规格质量,并降低了启动废物。

特征

IQ孔隙度是单面扫描或固定点测量。在线测量方法与Valmet纸张实验室和其他实验室测量的相关性是优异的。

先进的第三代孔隙度测量技术基于空气压力测量。由于新方法,不需要易受伤害的空气流量测量或测量真空控制。新的测量技术即使在位置和应用中,也提供了出色的孔隙度测量性能,在此之前,尚未使用之前的孔隙度量。

IQ孔隙度安装在扫描仪中或在固定点平台中作为任何其他Valmet IQ传感器。该传感器配备有纸张稳定板,使用芯片效果,可轻轻地接触纸张。这确保了空气在纸张和传感器头之间没有泄漏,但所有测量的空气都通过纸张来。传感器头垂直位置可以通过步进电机调节,使得片浮动不会影响测量读数。IQ孔隙度也配有空气喷射功能,可从管道和传感器表面中去除累积灰尘。清洁可以在穿过或在纸张位置进行。

好处

  • 精确和高分辨率的孔隙型材,用于精确控制机器和交叉方向的孔隙率
  • 测量给出了由过程操作调整引起的孔隙率变化的即时响应。结果,可以更快地达到规格的纸质质量,并且启动浪费减少了
  • 通过精确控制孔隙度可以最小化能量和提供成本
  • 减少拒绝孔隙度变化,卷质量和相关问题
  • 改进的孔隙率也积极影响可印刷性和纸张表面特性
结构特性测量
VALMET IQ形成测量

VALMET IQ形成测量

IQ形成测量可以瞬间响应由过程调整引起的形成变化。