Valmet IQ x射线灰分测量

Valmet IQ x射线灰分测量(IQ x射线灰分)分别测量碳酸钙,粘土和二氧化钛,以及作为上述填料成分总结的总灰分。

该方法为造纸原料中各组分的控制提供了坚实的基础。数字信号处理,高速空气密度温度补偿和污垢积聚补偿,即使在炎热,潮湿和肮脏的造纸环境中也能确保优越的传感器精度。IQ x射线灰分是工厂预校准的纸张包含不同数量的总灰分水平。

特性

由x射线管提供的x射线辐射优先被纸上的无机材料吸收。x射线管在通电时产生x射线辐射。辐射强度由大面积PIN探测器、静电计前置放大器和相关电子器件测量。

测量原理是基于被测材料对低能x射线辐射的吸收。通过x射线管辐射光谱和不同灰分组分的比吸收比可以计算出总灰分和不同灰分组分的量。

使用高速气隙温度测量测量空气密度变化的影响并自动补偿。此外,源和探测器头内的内部温度测量用于诊断目的。

好处

  • 更准确和稳定的板上测量,精确控制灰分和相关的质量特性。
  • 通过优化灰分含量和组成,可以提高原料质量,降低原料成本。
  • 更快的按规格质量和减少启动浪费。