Valmet智商基础体重测量

通过Valmet IQ基础重量测量(IQ基础重量)测量的精确扫描平均和高分辨率CD剖面为Valmet的机器方向和交叉方向基础重量(克)控制提供了坚实的基础。

数字信号处理,内部7点校准验证和灵敏的高速空气密度温度补偿确保优越的测量精度,即使在炎热,潮湿和不干净的造纸环境。

特性

由浓缩的Kr85核源提供的贝塔辐射被纸或纸板中的质量所吸收。随着质量的增加,离子室型探测器捕获的透射辐射减少。IQ Basis Weight利用这一基本原理,并通过使用特殊的传感器设计技术和测量诊断来改进它,以提供精确MD和CD控制所需的稳定、高分辨率测量。

IQ基础重量的数字测量分辨率通过使用7个内部校准验证标准自动优化特定等级,自定义选择所需的测量范围。尽管核吸收的物理性质是非线性的,但测量的分辨率总是最大的。在预定的标准化过程中,内部标准还可以补偿传感器窗口上的任何污垢积聚和源衰减。

IQ基础重量的校准在不同等级之间是一致的,尽管薄片填料含量或涂层重量有所变化。除了所有传感器共有的头部内部温度稳定外,源头部气隙温度稳定,探测器头部气隙主动调节。所有内部和外部空气间隙的温度是用高速传感器测量的。在温度补偿算法中考虑了空气密度变化的影响。

好处

  • 更精确和稳定的片上测量,更精确地控制MD和CD的性能,即使在最恶劣的环境下。
  • 精确的条纹控制使用5毫米分辨率剖面,可在非常第一张扫描。
  • 更快的标准质量和减少启动浪费。
  • 不同成分的灰分无关测量。
  • 产生信号优于噪声的读数,因此有更好的测量分辨率。