Valmet IQ光学卡尺测量

通过维美德IQ光学卡尺测量(IQ光学卡尺)测量的精确扫描平均值和高分辨率CD轮廓为维美德的十字方向卡尺控制提供了坚实的基础。纸腹板稳定在参考板上,没有传统的接触卡尺测量所经历的纸夹效应。这些结果提高了可运行性,因为没有接触部件可能与板材杂质相互作用,从而导致孔或板材断裂。

Valmet IQ光学卡尺测量

特性

IQ光学卡尺结合了两种精确的测量技术。磁原理用于测量激光到参考板的距离,而非接触式激光三角测量光学原理测量到纸张表面的距离。纸张厚度是由这些单独的测量彼此相减得到的。该设计将这两种原理结合在一起,消除了在扫描传感器时所涉及的正常机械公差所带来的误差。


利用柯安达效应将纸腹板稳定在参考板上。这可以防止passline变化和空气动力学影响干扰精度,即使在最高的机器速度。
自动标准化和校准程序定期调整传感器的校准参数,以适应环境条件,以这种方式,保证长期的准确性和可靠性。

好处

  • 亚微米卡尺测量精度在最高分辨率和扫描速度导致更准确和稳定的纸上测量和更精确的控制MD和CD属性。
  • 不存在因板材杂质或高夹紧力而造成孔、破片或划痕的夹紧效应。这将提高生产线的可运行性并减少浪费。
  • Passline处理与简单而可靠的测量原理相结合,可在广泛的纸张等级上提高轮廓精度。这些包括高度压光和非常快的机器,传统的接触卡尺测量一直具有挑战性。
  • 甚至卡尺改善卷筒构建和卷筒和印刷室的可操作性。