Valmet IQ总灰分测量

Valmet IQ总灰分测量(IQ Total Ash)测量的精确扫描平均值和高分辨率CD剖面为Valmet的机器方向总灰分含量控制提供了坚实的基础。数字信号处理和高速空气密度温度补偿确保了在高温、潮湿和肮脏的造纸环境中优越的测量精度。IQ总灰分测量含有粘土或其他填充物的纸张的总灰分。

特性

来自Fe55核源的x射线辐射优先被纸上的无机材料吸收。随着灰分含量的增加,离子室探测器捕获的透射辐射减少。这个基本的测量原理通过使用特殊的传感器设计技术和测量诊断来提供精确控制所需的稳定的高分辨率测量。灰分含量是工厂校准的板材含有粘土或碳酸钙或二氧化钛。

正常的放射性衰变被自动的标准化序列消除。
空气密度变化的影响被测量和自动补偿使用高速空气温度测量。此外,源和探测器头内的温度测量监测内部传感器环境,用于诊断目的。使用实时间隙测量传感器,由于可能的源-探测器间隙距离变化的影响是自动补偿的。

好处

  • 精确稳定的纸上测量,精确控制纸张灰分含量。
  • 可以优化灰分含量,提高质量,降低配料成本。
  • 更快的标准质量和减少启动浪费。
  • 灰分差法控制涂层重量。