VALMET IQ表面测量
由Valmet IQ表面测量测量的精确机器方向和高分辨率型材为生产优质纸和板提供了坚实的基础。
片材表面属性的实时信息可以优化纸张和板机上的可打印性。IQ表面测量使瞬间响应由基片，涂覆，日历或其交互变化引起的表面质量变化。与传统方法相比，智商表面测量的新图像分析技术允许更高效，更准确的纸张制造商的表面质量控制。
特征
单面Valmet IQ表面测量通过使用高速图像捕获和图像分析技术测量移动纸张的表面质量。测量区域的照明采用来自相机周围不同方向的几个LED闪光灯进行。当光源闪光灯时，网上同一侧的高分辨率摄像机采用纸张的快照。表面分析是通过传感器的复杂图像分析来完成的，该图像分析定义了所有表面质量参数。此外，可以将直接从QCS系统转移到用于分析的操作显示器的地形图像。
好处
- 精确稳定的型材测量，精确控制板材在机内和横向的表面性能。
- 通过在线预测纸质工厂的可印刷性，并实现了客户投诉的减少。
- 大量不同的表面质量参数也非常平滑等级，例如。PPS平滑度，弯曲粗糙度，可变性，表面指数，孔，峰值，电源/波长
- 测量给出了对薄片表面属性的瞬间响应由过程操作发生的变化，如涂布机刀片改变。
- 测量使薄板表面性能优化，可帮助纸张和纸板制造商提高产品质量，同时减少浪费，降低生产成本。
- 提供更好的生产计划和变化的工具。