VALMET IQ光学卡钳测量
由Valmet IQ光学卡尺测量(IQ光学卡尺)测量的精确扫描平均值和高分辨率CD剖面为Valmet的横向卡尺控制提供了坚实的基础。纸网稳定在参考板上，不存在传统接触卡尺测量所经历的薄片夹紧效应。这些结果提高了可操作性，因为没有接触零件，可能会与板料杂质相互作用的方式，从而导致孔或板料断裂。
特性
IQ光学卡尺结合了两种精确的测量技术。磁法原理用于测量激光到参考板的距离，非接触激光三角法光学原理用于测量到纸张表面的距离。纸张厚度的计算方法是将这些测量值互相减去。在本设计中，这两种原理的结合消除了在扫描传感器时所涉及的普通机械公差所带来的误差。
纸幅使用碳轭效应稳定到参考板。这可以防止通道变化和空气动力学效果扰乱了最高机器速度的准确性。
自动标准化和校准程序定期调整传感器的校准参数，以适应环境条件，从而保证长期的准确性和可靠性。
好处
- 亚微米卡尺测量精度在最高的分辨率和扫描速度，导致更准确和稳定的板上测量和更精确的控制的MD和CD特性。
- 不存在因板材杂质或高夹力而造成孔、断片、打标等挤压现象。这提高了生产线的可操作性，减少了浪费。
- Passline处理与简单和稳健的测量原理相结合，可提高各种纸张等级的轮廓精度。这些包括高压延和非常快的机器，传统的接触卡尺测量一直具有挑战性。
- 甚至卡尺改善了卷筒结构和绕线机和压榨室的可操作性。