瓦尔梅特IQ x射线灰分测量

Valmet IQ x射线灰分测量(IQ x射线灰分)分别测量碳酸钙,粘土和二氧化钛,总灰分作为上述填料组件的总结。

该灰分分析提供了用于控制造纸提供的每个组分的固体碱。数字信号处理,高速空气密度温度补偿和污垢堆积补偿确保了卓越的传感器准确性,即使在热,潮湿和脏造纸环境中也是如此。IQ X射线灰器是工厂预先校准的含有不同量的灰分水平的纸张。

特性

x射线管提供的x射线辐射被纸张中的无机材料优先吸收。x射线管通电时产生x射线辐射。辐射强度是用大面积PIN探测器、静电计前置放大器和相关电子学测量的。

测量原理是基于被测材料对低能x射线辐射的吸收。通过x射线管辐射光谱和灰分比吸收率可以计算出总灰分和不同灰分的含量。

空气密度变化的影响被测量和自动补偿使用高速气隙温度测量。此外,在源和检测器头内部的温度测量用于诊断目的。

好处

  • 更准确和稳定的旧曲线测量,用于精确控制灰分和相关质量特性。
  • 通过优化灰分和配料,可提高配料质量,降低配料成本。
  • 提高质量,减少启动浪费。