瓦尔梅特智商总灰分测量
Valmet IQ总灰分测量仪(IQ总灰分)测量的精确扫描平均值和高分辨率CD剖面为Valmet的机器导向总灰分含量控制提供了坚实的基础。数字信号处理和高速空气密度温度补偿确保优越的测量精度在炎热，潮湿和肮脏的造纸环境。IQ总灰分测量含有粘土或其他填充物的纸张的总灰分。
特征
来自FE55核来源的X射线辐射优先由纸张中的无机材料吸收。作为灰分含量的增加，由离子室检测器捕获的透射辐射减小。这种基本的测量原理是通过使用特殊的传感器设计技术和测量诊断来改进，以提供精确控制所需的稳定，高分辨率测量。灰分含量为含有粘土或碳酸钙或二氧化钛的片材校准的工厂。正常，放射性衰减通过自动标准化序列无效。
使用高速空气温度测量测量和自动地测量空气密度变化的影响。此外，源和检测器头内的温度测量监视内部传感器环境以进行诊断目的。使用实时间隙测量传感器，由于可能的源极 - 检测器间隙距离变化而导致的效果是自动补偿的。
好处
- 精确稳定的纸张上的纸张纸上的精确控制。
- 灰分含量可优化以提高质量，减少提供的生产成本。
- 更快的规格质量和减少的垃圾浪费。
- 灰差测定法控制涂层重量。